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結(jié)合橢偏反射性能優(yōu)異的多角度手動(dòng)角度計(jì)和角度精度*的激光橢偏儀允許測(cè)量單層薄膜和層疊膜的折射率、消光系數(shù)和膜厚。

多角度激光橢偏儀性能優(yōu)異的多角度手動(dòng)角度計(jì)和角度精度*的激光橢偏儀允許測(cè)量單層薄膜和層疊膜的折射率、消光系數(shù)和膜厚。

激光橢偏儀SE 800 PV是分析結(jié)晶和多晶硅太陽(yáng)能電池防反射膜的理想工具?？梢詼y(cè)量單層薄膜(SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3)和多層疊層膜(SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiNx/Al2O3)。

激光橢偏儀 多角度SE 400adv PV在632.8nm的氦氖激光波長(zhǎng)下，在紋理化的單晶和多晶硅片上提供防反射單膜的膜厚和折射率?？筛鼡Q的晶片載片器允許對(duì)多晶晶片和堿性織構(gòu)的單晶晶片進(jìn)行測(cè)量。

激光橢偏儀 SE 400adv可用于從可選擇的、應(yīng)用特定的入射角度表征單層薄膜和基片。自動(dòng)準(zhǔn)直透鏡確保在大多數(shù)平坦反射表面的吸收或透明襯底上進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。多角度測(cè)量的集成支持(40°—90°,5°步進(jìn))，可用于確定層疊的厚度、折射率和消光系數(shù)。為了補(bǔ)償激光橢偏測(cè)量中厚度測(cè)量的模糊性，在厚度測(cè)量中也采用了多角度測(cè)量。